Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия. Владимир Бублик и др.
- Тип: Текст PDF
- Авторы:
- Издательство: МИСиС(2018)
- Год написания: 2006
- Страниц: 9
- Язык: Русский
392 руб.
Отложить
- Описание
- Фрагмент
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.
