Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии. Александр Величко и др.
- Тип: Текст PDF
- Авторы:
- Издательство: Новосибирский государственный технический университет(2018)
- Год написания: 2012
- ISBN: 978-5-7782-1924-3, 978-5-04-112321-5
- Страниц: 28
- Язык: Русский
45 руб.
Отложить
- Жанры: Учебники и пособия для вузов
- Описание
- Фрагмент
Дано краткое описание способа измерения ширины запрещенной зоны и толщины гетероэпитаксиальных узкозонных полупроводников методом определения спектральных зависимостей коэффициентов поглощения и отражения на ИК Фурье-спектрометре. В работе кратко изложена теория механизмов поглощения и отражения в полупроводниках. Дано описание ИК Фурьеспектрометра Nicolet 6700, изложена методика проведения эксперимента и обработки экспериментальных данных. Приведены контрольные вопросы и список рекомендованной литературы.
