Физика твердого тела и полупроводников. Определение времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости. Регина Дикарева и др.
- Тип: Текст PDF
- Авторы:
- Издательство: Новосибирский государственный технический университет(2018)
- Год написания: 2011
- ISBN: 978-5-7782-1667-9, 978-5-04-113055-8
- Страниц: 24
- Язык: Русский
40 руб.
Отложить
- Жанры: Учебники и пособия для вузов
- Описание
- Фрагмент
Дано краткое описание способа измерения времени жизни неосновных носителей заряда методом модуляции проводимости точечного контакта. Измерения проводятся на образцах германия и кремния. В работе рассмотрен вопрос о времени жизни неосновных носителей заряда и изложена теория механизма рекомбинации через локальные центры захвата. Приведены краткие теоретические сведения о неравновесных процессах в полупроводниковых материалах, дано описание лабораторной установки, изложена методика проведения эксперимента и обработки экспериментальных данных, указаны требования к отчету. В конце описания лабораторной работы приведены контрольные вопросы для самоподготовки студентов и список рекомендованной литературы.
